කොටස් අංකය :
SN74LVTH182652APM
නිෂ්පාදක :
Texas Instruments
විස්තර :
IC SCAN TEST DEVICE ABT 64-LQFP
තාර්කික වර්ගය :
ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers
සපයනු ලබන වෝල්ටීයතාව :
2.7V ~ 3.6V
මෙහෙයුම් උෂ්ණත්වය :
-40°C ~ 85°C
සවි කරන වර්ගය :
Surface Mount
සැපයුම්කරු උපාංග පැකේජය :
64-LQFP (10x10)